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SYNTHESIS, IRRADIATION & ANALYSIS OF MATERIALS (SIAM)

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L’expertise de la plateforme Synthèse, Irradiation & Analyse des Matériaux (SIAM) en caractérisation des matériaux repose sur sa capacité à utiliser et combiner différentes spectroscopies (XPS, ToF-SIMS & IBA). Ces techniques permettent une évaluation...
PHYSICO-CHEMICAL CHARACTERIZATION (PC²)

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La plate-forme PC² est constituée d’un vaste panel d’instruments comprenant : des spectromètres de résonance magnétique nucléaire (à l’état liquide et solide), des diffractiomètres de rayons X sur monocristal et sur poudre, des instruments...
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MASS SPECTROMETRY (MaSUN)

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LASERS, OPTICS & SPECTROSCOPIES (LOS)

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Le LOS applique des mesures optiques avancées à la caractérisation de la matière, de la lumière et des interactions lumière-matière pour des recherches fondamentales ou appliquées. Les phénomènes optiques sont utilisés pour étudier la matière dans les phases gazeuse...
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